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| 加工定制：否 | 品牌：SEIKO/精工 | 型号：SEA1000AIII |
| 测量范围：0-10000PPM | 测量精度：1 | 分辨率：0.0001 |
| 电源电压：220V | 用途：ROHS检测 |
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1.Sony、Panasonic认可针对塑料及电子组件中有害重金属检测之X射线荧光分析仪 (符合Sony STM-0085快速检测方法)
2.采用高灵敏度硅半导体侦测，无须液态氮
3.配备CCD监视器
4.具备形状、厚度、材质补正功能(Seiko专利)
5.***检测下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)
6.可针对卤素Br\Cl做快速分析
产品规格
测定元素 | 原子编号 13 (Al) ~ 92 (U) |
样品形态 | 固体，粉末，液体 |
X光管 | 小型空冷式X射线管球(Rh靶) |
管电压： 15kV, 50kV 管电流： 1mA | |
检测器 | Si半导体检测器(无需液态氮) |
准直器 | 1mm, 5mm(自动切换) |
样品观察 | 彩色CCD摄像头 |
滤波器 | 4种模式自动切换 |
样品室 | 370(W)*320(D)*155(H)mm |
X-ray Station | 笔记计算机或桌上型计算机 |
(OS; MS-windows XP) | |
打印机(选购) | 喷墨打印机 |
定性分析功能 | 能谱测定 |
自动辨别，图谱比对 | |
定量分析功能 | 块体FP法，标准曲线法 |
KLM标示表示，差异表示 | |
统计处理功能 | MS-EXCEL |
报告制作 | MS-WORD |
设置尺寸 | 900(W)*700(D)*460(H)mm(不含打印机) |
重量 | 90kg |
使用电源 | AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A |
选购 | 有害物质判定软件 |
能谱匹配软件(材料判定) | |
薄膜FP软件 | |
薄膜标准曲线软件 | |
外部驱动X-Y移动台 | |
自动进样器 |
热门应用领域：
1.满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析，例如Cd\Pb\Hg\Cr\Br等含量的快速分析。
2.针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。
3.玩具中有害重金属的检测
4.分析电子产品电镀层的厚度
5.各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
6.金属材料品质控管：合金中主成份的快速分析。
7.贵金属的分析鉴定：贵金属金、钯、铂、银等含量分析
